美國材料試驗協(xié)會（ASTM）自2008年開始的一項納米技術標準修訂工作，日前結束。

這項標準的編號為ASTM E2490，內容為用光關聯(lián)能譜法（PCS）測定懸浮狀態(tài)下納米材料的粒徑分布方法指南。PCS是動態(tài)光散射法或準彈性光散射法。這項技術通常用于小于100納米，特別是小于1納米的極微小顆粒的測定。

    這項修訂工作動用了26間實驗室，共完成了7700次測量數(shù)據(jù)。為了確保修訂工作的順利進行，美國國家標準研究所和國家癌癥研究所均參與了這些實驗室研究工作。ASTM納米技術國際委員會下設的納米粒子物理、化學和毒性表征分委員會負責該標準的制訂與修訂工作。